Mahr - Product Catalog Strona 543
Oferta dla klientów komercyjnych**Najlepiej sprzedający się od Mahr
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
wył. Wysyłkę
MarSurf XC 2 with CD 120 Contour Measuring Station DESCRIPTION Your entry into precision contour measurement The quick, simple and inexpensive 2D contour measuring system satisfies all demands in terms of accuracy and range of evaluation criteria Consistently delivers safe and reliable results • Parameters that are dependent on datum elements are recalculated as soon as a datum element is changed • Password protected user access prevents improper use • Outstanding calibration processes including geometry calibration, measuring force calibration, bend compensation, etc. • Sturdy, rigid probes • Smooth running, sturdy and accurate drive unit • Automatic lowering and raising of the probe arm at individually adjustable speeds • Patented probe arm attachment for collision protection Supplied with: • MarSurf XC 2 including PC, MidRange Standard, MarSurf XC 2 software, Mahr license key • TFT monitor • MarSurf CD 120 drive unit • MarSurf ST 500 measuring stand (including holder) • Calibration set • MCP 23 manual control panel • CT 120 XY table including rotary adjustment TECHNICAL DATA XC 2 Measuring range (in Z) 50 mm Traversing lengths 0.2 mm to 120 mm Measuring force 1 mN to 120 mN Sampling angle On smooth surfaces, depending on deflection: trailing edges up to 88°, leading edges up to 77° 0.1 to 1 mm/s Contacting speed (in Z) Resolution Guide deviation In Z, relative to stylus tip: 0.38 µm (350 mm probe arm) / 0.19 µm (175 mm probe arm) In Z, relative to measuring system: 0.04 µm < 1 µm (over 120 mm) Measuring speed 0.2 mm/s to 4 mm/s Positioning speed In X and return speed: 0.2 to 8 mm/s In Z: 0.2 to 10 mm/s 175 mm, 350 mm Probe arm length Tip radius 25 APPLICATIONS ACCESSORIES Machine building • Bearings, threads, threaded rods, ball screws, shafts, racks • Measurement close to the production area Contour measurement in semi-automated operation Optional • Parallel vise, vee-block • Equipment table Automotive industry • Steering, brake system, gearbox, crankshaft, camshaft, cylinder head Software options • DXF import option • Tangential elements option • QS-STAT / QS-STAT Plus option Medicine • Contour measurement for hip and knee endoprostheses • Contour measurement for medical screws • Contour measurement for dental implants For more information, please visit our website: www.mahr.com MarSurf | Surface Measuring Instruments 539
708 Strony | Ważny do 12/2023 | Previous page | Następna strona
Wybierz swój język
Zagadnienia prawne
Producent ponosi wyłączną odpowiedzialność za treść, cenę i szczegóły dotyczące produktów i ofert prezentowanych w katalogach. Z zastrzeżeniem zmian technicznych i optycznych przez producenta oraz błędów.
Formularz zapytania o produkty specjalne
Usługa zaopatrzenia ToolTeam®
Szukasz produktów, które znajdują się w katalogu, ale nie można ich kupić bezpośrednio online?Nasz dział zaopatrzenia z przyjemnością przedstawi Ci niezobowiązującą, indywidualną ofertę.