Mahr - Hauptkatalog Pagina 473
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MarSurf CM expert Flächenhafte 3D-Messung CM expert MarSurf Oberflächenmessgeräte Flächenhafte 3D-Messung BESCHREIBUNG Automatisierbares HighendMesssystem Das MarSurf CM expert ist ein leistungsstarkes Konfokalmikroskop mit dem Sie Oberflächen dreidimensional messen und analysieren können – berührungsfrei, materialunabhängig und schnell. Dank des robusten Aufbaus und der Unempfindlichkeit gegenüber Umgebungseinflüssen ist das MarSurf CM expert nicht nur für den Einsatz im Test- und Prüflabor geeignet, sondern auch für die Qualitätssicherung in Produktionsumgebungen bestens gerüstet. Durch eine zusätzliche manuelle Z-Positionierung, einen großen x- und y-Verfahrbereich und die Möglichkeit der Automatisierung bietet es ausgezeichneten Bedienkomfort. Die Option, benutzerunabhängige und vollautomatische Messungen durchzuführen, zeichnet das Oberflächenmesssystem für den unkomplizierten leistungsstarken Einsatz in der Qualitätssicherung aus. TECHNISCHE DATEN Ihre Top-Vorteile: • Konfokaler Messkopf – HDR-Kamera (S/W- oder Farbkamera) – 4-fach Objektivrevolver mit Kennung • L-Stativ inkl. Steuerungselektronik • Motorisierter XY-Tisch (100x100 mm) mit Glasmaßstäben zur Probenpositionierung und Bildfeldzusammenführung (“Stitching”) • Motorisierte Z-Achse (70 mm) mit Glasmaßstab • Messsystemrechner inkl. 24“-TFT Monitor • Objektive: – 5x bis 100x wählbar • MarSurf MSW zur intuitiven Datenaufnahme • MarSurf ASW zur Automatisierung (optional) • MarSurf MfM für professionelle Auswertung, grafische Darstellung und Protokollerstellung (Standard-, Extended-, Premium-Version wählbar) • Benutzerunabhängige Serienmessungen durch Automatisierungssoftware • Hohe Messgeschwindigkeit – auch bei voller Auflösung • Bedienerfreundliches Konzept • Sicherheit durch Kollisionsdetektion in allen Richtungen zum Schutz für Ihr Werkstück und das Messsystem • High-Dynamic-Range (HDR)Funktion 16 Bit • Konstant hohe Auflösung auch bei großen Messflächen dank HD-Stitching CM expert Messprinzip Konfokal Hochleistungs-LED (505 nm / weiß) bis zu 2 (nm) vertikal Auflösung Messgeschwindigkeit bis zu 100fps Kennwerte ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, … ANWENDUNGEN Lieferumfang: MarSurf CM expert Maschinenbau Rauheit, Geometrie und Verschleißvolumen qualifizieren und quantifizieren Elektronik und Halbleiter Bauteilinspektion bis in den Submikrometerbereich für fehlerfreie Produkte Medizintechnik Qualitätssicherung von medizintechnischen Oberflächen in Produktion und Labor Materialwissenschaft Optimierung von Funktionseigenschaften neuer Oberflächen und Produkte Mikrosystemtechnik Komplexe Oberflächengeometrien von kleinsten Bauteilen nanometergenau vermessen Das etablierte optische Messsystem wird unter anderem erfolgreich eingesetzt für: • Rauheitsmessung nach DIN EN ISO 4287 / 25178 • Topografiemessung (u.a. Volumen, Verschleiß, Isotropie) • Messung von Mikrogeometrie und Schichtdicken Anwender schätzen die Zuverlässigkeit des Messsystems, welches quantitative rückführbare 3D-Kennwerte für viele Branchen liefert. Weitere Informationen finden Sie auf unserer Website: www.mahr.com MarSurf | Oberflächenmessgeräte 469
718 pagine | Valido fino a 12/2023 | Previous page | Pagina successiva
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